- Home
- Events
Events Industrial Metrology
Hội thảo: Kiểm soát chất lượng và phân tích lỗi với kính hiển vi ZEISS
12/12/2024
Vietnam / White Palace Phạm Văn Đồng, Hồ Chí Minh
Tham dự hội thảo Kiểm soát chất lượng và phân tích lỗi với Kính hiển vi ZEISS của chúng tôi diễn ra vào ngày Thứ Năm, 12 tháng 12 năm 2024, từ 9:00 AM đến 2:30 PM tại White Palace Phạm Văn Đồng.
Hội thảo tập trung vào các giải pháp giải quyết những thách thức trong việc nghiên cứu và kiểm soát chất lượng sản phẩm bằng cách sử dụng kính hiển vi quang học và kính hiển vi điện tử quét. Tham gia hội thảo, Quý khách hàng sẽ có cơ hội khám phá những ứng dụng của công nghệ kính hiển vi và cách áp dụng chúng vào các lĩnh vực như đúc, linh kiện ô tô xe máy, pin xe điện, gia công cơ khí, v..v.
Bên cạnh đó, Quý khách hàng sẽ được trải nghiệm demo thực tế các loại kính hiển vi quang học của ZEISS, từ những sản phẩm tiên tiến nhất đến những giải pháp được tùy chỉnh phù hợp với nhu cầu cụ thể của doanh nghiệp.
Ngôn ngữ được sử dụng tại Hội thảo: Tiếng Việt.